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    缺陷漏測分析:測試過程改進

    發布: 2010-6-13 13:06 | 作者: 不詳 | 來源: 領測國際采編 | 查看: 113次 | 進入軟件測試論壇討論

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      ? 漏測分析舉例

      圖 -1

      * APAR 是描述缺陷屬性的一個術語。

      圖 -1 以一個虛擬產品的 Lotus Notes 漏測缺陷數據庫作為示例。在本例中,對一個漏測缺陷采用三個標簽項來跟蹤其特征數據。第一個標簽項用于描述缺陷的詳細數據,這些數據來自于缺陷跟蹤工具,它們從缺陷跟蹤工具到漏測分析工具的輸入和轉換最好是自動完成。此外,還有一個較大的屬性域用來描述缺陷的歷史和概要,本圖中沒有顯示出來該域。

      圖 -2

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    文章來源于領測軟件測試網 http://www.kjueaiud.com/


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