缺陷漏測分析：測試過程改進

　　圖 -4

　　圖 -5

　　圖 -5 分析了漏測缺陷對用戶造成的不同影響，如業務中斷、系統崩潰、或設備相關問題等。例如，如果 “ 影響 1” 是設備相關問題，那么被測軟件所在的硬件平臺可能需要進行改進;同樣，如果藍色部分是高嚴重等級的影響類型，那么可以看出漏測是高嚴重等級影響類型的具體比例是多少。

　　通過前面示例的數據庫工具，還可以輸出大量其他圖表，上面所舉的兩個例子只是最常用的兩種分析圖。

　　2 、評價漏測分析效果

　　評價改進的效果需要有精確的數據和一致的分析報告，以下幾個數據會被用到：

　　TFVUD 是用戶發現缺陷數( Total Field Valid Unique Defects )，即由用戶發現的經過了確認的、非重復的、非用戶錯誤操作的、非建議類型的所有缺陷;

　　PDD 是測試發現缺陷數( Post Development Defects )，即在開發完成后的測試周期中發現的缺陷數，但它不包括那些向用戶發布后發現的缺陷;

　　KLOC 表示千行代碼。

　　利用上面數據可以得到以下分析數據：

　　? TFVUD

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　　千行變更代碼 & 新代碼

　　應當在產品全生命周期中測量上面的值，用作一個版本和另一個版本在相同時間檢查點上進行比較的評價指標。例如，一個季度中， 2.0 版本的該測量值應該比 1.0 版本低。進行該項測量的目的是減少單位代碼規模中用戶發現的的有效問題數。

文章來源于領測軟件測試網 http://www.kjueaiud.com/