步驟(2)
測試單元E，在調用E 單元的D 單元處使用一個測試驅動，再加上已測試過的單元H、I 和J。
步驟(3)
測試單元D，在調用D 單元的A 單元處使用一個測試驅動，再加上已測試過的單元E、F、G
、H、I 和J。(如圖3.1 所示)
步驟(4)
測試單元A，使用已測試過的單元B、C、D、E、F、G、H、I 和J。
2. 優點
和自上而下法一樣，自下而上單元測試法提供了一種比軟件集成階段更早的單元集成。自下
而上單元測試同樣也是真正意義上的單元測試和軟件集成策略的結合。因為不需要測試樁，
所以所有的測試用例都由測試驅動控制。這樣就使得低層次單元附近的單元測試相對簡單些
。(但是，高層次單元的測試可能會變得很復雜。)在使用自下而上法測試時，測試用例的
編寫可能只需要功能性的設計信息，不需要結構化的設計信息(盡管結構化設計信息可能有
利于實現測試的全覆蓋)。所以當詳細的設計文檔缺乏結構化的細節時，自下而上的單元測
試就變得十分有用處。自下而上單元測試法提供了一種低層次功能性的集成，而較高層次的
功能隨著單元測試過程的進行按照單元層次關系逐層增加。這就使得自下而上單元測試很容
易地與測試對象相兼容。
3. 缺點
隨著測試逐層推進，自下而上單元測試變得越來越復雜，隨之而來的是開發和維護的成本越
來越高昂，同樣要實現好的結構覆蓋也變得越來越困難。低層單元的變化經常影響其上層單
元的測試。例如：想象一下H 單元發生變化的情況。很明顯，對H 單元的測試不得不發生變
化和重新進行。另外，對于A、D 和E 單元的測試來說，因為它們共同使用了已測試過的H
單元，所以它們的測試也不得不重做。作為H 單元發生變化的后果，這些測試本身可能也要
進行改變，即使單元A、D 和E 實際上并沒有發生變化。這就導致了當變化發生時，產生了
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