ARM JTAG 調試原理

領測軟件測試網 關于JTAG的原理，大家可以參考OPEN-JTAG 開發小組寫的《ARM JTAG 調試原理》。JTAG、BDM 都比較類似，實際上是將仿真功能嵌入到芯片內部，接上比較簡單的調試工具就可以進行開發了，省掉了高價的仿真器。

   JTAG 調試用到了 TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST  這幾個腳。其中 TRST 是用來對 TAP controller進行復位的，它不是必須的。通過在 TMS腳也可以使 TAP controller復位。

Test Clock Input (TCK)  
TCK為 TAP的操作提供了一個獨立的、基本的時鐘信號，TAP 的所有操作都是通過這個時鐘信號來驅動的。TCK在 IEEE 1149.1 標準里是強制要求的。 

Test Mode Selection Input (TMS)  
TMS信號用來控制 TAP狀態機的轉換。通過 TMS信號，可以控制 TAP在不同的狀態間相互轉換。TMS信號在 TCK的上升沿有效。TMS在 IEEE 1149.1 標準里是強制要求的。 

Test Data Input (TDI)  
TDI 是數據輸入的接口。所有要輸入到特定寄存器的數據都是通過 TDI 接口一位一位串行輸入的（由 TCK驅動）。TDI在 IEEE 1149.1 標準里是強制要求的。 

Test Data Output (TDO)  
TDO 是數據輸出的接口。所有要從特定的寄存器中輸出的數據都是通過 TDO 接口一位一位串行輸出的（由 TCK驅動）。TDO在 IEEE 1149.1 標準里是強制要求的。 

Test Reset Input (TRST)  
TRST 可以用來對 TAP Controller 進行復位（初始化）。不過這個信號接口在 IEEE 1149.1標準里是可選的，并不是強制要求的。因為通過 TMS也可以對 TAP Controller進行復位（初始化）。
 

文章來源于領測軟件測試網 http://www.kjueaiud.com/

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