0cm;text-align:justify;text-justify:inter-ideograph;line-height:170%;
mso-pagination:lines-together;page-break-after:avoid">第73貼【2004－8－2】：可測試性技術的產生
可測試性的概念最早產生于航空電子領域。較早的航空電子設備的測試過程通常采用以分析輸入/輸出端口為主的“黑箱”方式進行。隨著電子設備功能和結構日益復雜，可靠性、維修性要求日益增高，“黑箱”方法已越來越難以滿足需求。為此，要求測試人員以更積極的方式介入測試過程，不僅要承擔傳統測試中激勵生成者和響應分析者的角色，而且要成為整個測試過程的主導者和設計者，通過改善被測試對象的設計使其更便于測試，即提高被測對象的可測試性。這種可測試性的思想和概念最早由F.Liour等人于1976年提出。隨后，美國國防部相繼頒布了MIL-STD-471A通告II--《設備或系統的機內測試、外部測試、故障隔離和可測試性特性要求的驗證及評價》、MIL-STD-470A--《系統及設備維修性管理大綱》、MIL-STD-2165--《電子系統及設備的可測試性大綱》等一系列與可測試性相關的標準規范。其中，MIL-STD-2165可測試性大綱將可測試性作為與可靠性及維修性等同的設計要求，并規定可測試性分析、設計及驗證的要求及實施方法，該標準的頒布標志著可測試性作為一門獨立學科的確立。