采用ODC改善軟件質量：一個案例研究

'g-S`q7~,Q4R.w]a樣例1：Opendate里的觸發軟件測試技術門戶.z6CnV;j)I8C Y s8U$o

?9bR,P9{n!F Z在我們的案例項目中，當繪制“Opendate內部觸發的總次數”圖表（參見圖5）時，我們可以發現在功能測試階段之后出現了一些覆蓋缺陷。造成這種缺陷可能有兩種原因。原因之一是測試效率不夠高，原因之二是重新修復或重寫代碼不夠理想。因此接下來在我們不得不研究“觸發與組件”以及“限定符與組件”的圖表，從而找出真正的原因。軟件測試技術門戶\Rt0Pl1f[.[;^

0{NkB*iX-WZXY(R圖5：我們可以看到一些覆蓋缺陷（灰色標明的）是在功能測試之后發生的軟件測試技術門戶`I3qH0|
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