樣例1:Opendate里的觸發
在我們的案例項目中,當繪制“Opendate內部觸發的總次數”圖表(參見圖5)時,我們可以發現在功能測試階段之后出現了一些覆蓋缺陷。造成這種缺陷可能有兩種原因。原因之一是測試效率不夠高,原因之二是重新修復或重寫代碼不夠理想。因此接下來在我們不得不研究“觸發與組件”以及“限定符與組件”的圖表,從而找出真正的原因。

圖5:我們可以看到一些覆蓋缺陷(灰色標明的)是在功能測試之后發生的
發布: 2007-6-12 19:06 | 作者: Yang Gu | 來源: IBM | 查看: 420次 | 進入軟件測試論壇討論
樣例1:Opendate里的觸發
在我們的案例項目中,當繪制“Opendate內部觸發的總次數”圖表(參見圖5)時,我們可以發現在功能測試階段之后出現了一些覆蓋缺陷。造成這種缺陷可能有兩種原因。原因之一是測試效率不夠高,原因之二是重新修復或重寫代碼不夠理想。因此接下來在我們不得不研究“觸發與組件”以及“限定符與組件”的圖表,從而找出真正的原因。
圖5:我們可以看到一些覆蓋缺陷(灰色標明的)是在功能測試之后發生的