缺陷密度的解釋

缺陷密度: 基本的缺陷測量是以每千行代碼的缺陷數(Defects/KLOC)來測量的。稱為缺陷密度(Dd)，其測量單位是defects／KLOC。缺陷密度=缺陷數量/代碼行或功能點的數量

　　可按照以下步驟來計算一個程序的缺陷密度： 1.累計開發過程中每個階段發現的缺陷總數(D)。 2.統計程序中新開發的和修改的代碼行數(N)。 3.計算每千行的缺陷數Dd=1000*D/N。例如，一個29.6萬行的源程序總共有145個缺陷，則缺陷密度是： Dd＝1000*145/296000=0.49 defects／KLOC。

　　在缺陷密度度量中存在的兩個主要困難是：

　　1.缺陷權值如何計算：是否將嚴重程度較輕的缺陷和較重的缺陷同等對待？我們需要對他進行加權嗎？

　　2.代碼行怎么統計：代碼行的數量可能會因編程人員的技術水平和所使用的語言不同而不同。

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